WAIT：等待硬盤(pán)就位。

STOP（熱鍵Shift+F4）：關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá)。

IBME：查看IBM硬盤(pán)缺陷表（P-LIST）。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù)，缺陷表越大，生成的文件（在IBMLST目錄下）越大，如果MHDD存在軟盤(pán)上的話(huà)，有可能會(huì)空間不足；

FUJLST：查看富士通硬盤(pán)缺陷表（P-LIST）。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù)，缺陷表越大，生成的文件（在FUJLST目錄下）越大，如果MHDD存在軟盤(pán)上的話(huà)，有可能會(huì)空間不足；

MAKEBAD：人為地在某個(gè)指定區(qū)域內(nèi)制造壞道。注意，由它生成的壞道很難修復(fù)。

RANDOMBAD：隨機(jī)地在硬盤(pán)的各個(gè)地方生成壞道，按ESC鍵停止生成。注意，由它生成的壞道很難修復(fù)。

BATCH（熱鍵F5）：批處理。

R（熱鍵F3）：硬盤(pán)復(fù)位。比如使用了PWD加密碼后，為了使密碼馬上生效，可以用此命令。

FUCKFUJ、KILLFUJ、AKILLFUJ：都是刻意破壞富士通硬盤(pán)的命令，一定謹(jǐn)慎使用，否則硬盤(pán)將被徹底損壞，無(wú)法修復(fù)。某一切正常的富士通硬盤(pán)，在使用FUCKFUJ命令后，僅一、兩秒種，就提示破壞成功，重新啟動(dòng)后，連自檢動(dòng)作都消失了，主板檢測(cè)不到，硬盤(pán)徹底報(bào)廢。

SCAN（熱鍵F4）：盤(pán)面掃描，可以用特定模式來(lái)修復(fù)壞扇區(qū)，其中：

[Scan in: CHS/LBA]：以CHS或LBA模式掃描。CHS只對(duì)500M以下的老硬盤(pán)有效。

[Starting CYL]：設(shè)定開(kāi)始掃描的柱面。

[Starting LBA]：設(shè)定開(kāi)始掃描的LBA值。

[Log: On/Off]：是否寫(xiě)入日志文件。

[Remap: On/Off]（重新映像）：是否修復(fù)壞扇區(qū)。

[Ending CYL]：設(shè)定終止掃描的柱面

[Ending LBA]：設(shè)定終止掃描的LBA值。

[Timeout(sec)]：設(shè)定超時(shí)值，從1到200，默認(rèn)值為30。

[Advanced LBA log]（高級(jí)LBA日志）：此項(xiàng)不支持。

[Standby after scan]：掃描結(jié)束后關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá)，這樣即可使SCAN掃描結(jié)束后，硬盤(pán)能夠自動(dòng)切斷供電，但主機(jī)還是加電的（屬于無(wú)人職守功能）。

[Loop the test/repair]：循環(huán)檢測(cè)和修復(fù)，主要用于反復(fù)地修復(fù)頑固型壞道。

[Erase WAITs]（刪除等待）：此項(xiàng)主要用于修復(fù)壞道，而且修復(fù)效果要比REMAP更為理想，尤其對(duì)IBM硬盤(pán)的壞道最為奏效，但要注意被修復(fù)的地方的數(shù)據(jù)是要被破壞的（因?yàn)镋rase WAITS的每個(gè)刪除單位是255個(gè)扇區(qū)）。Erase WAITS的時(shí)間默認(rèn)為250毫秒，數(shù)值可設(shè)置范圍從10到10000。要想設(shè)置默認(rèn)時(shí)間，可以打開(kāi)/CFG目錄下的MHDD.CFG文件，修改相應(yīng)項(xiàng)目即可更改Erase WAITS數(shù)值。此數(shù)值主要用來(lái)設(shè)定MHDD確定壞道的讀取時(shí)間值（即讀取某扇區(qū)塊時(shí)如果讀取時(shí)間達(dá)到或超過(guò)該數(shù)值，就認(rèn)為該塊為壞道，并開(kāi)始試圖修復(fù)），一般情況下，不必更改此數(shù)值，否則會(huì)影響壞道的界定和修復(fù)效果。

屏幕第一行的左半部分為為狀態(tài)寄存器，右半部分為錯(cuò)誤寄存器；在屏幕第一行的中間（在BUSY和AMNF之間）有一段空白區(qū)域，如果硬盤(pán)被加了密碼，此處會(huì)顯示PWD；如果硬盤(pán)用HPA做了剪切，此處會(huì)顯示HPA；

屏幕第二行的左半部分為當(dāng)前硬盤(pán)的物理參數(shù)，右半部分為當(dāng)前正在掃描的位置；

屏幕右下角為計(jì)時(shí)器，Start表示開(kāi)始掃描的時(shí)間，Time表示已消耗的時(shí)間，End表示預(yù)計(jì)結(jié)束的時(shí)間，結(jié)束后會(huì)再顯示Time Count，表示總共耗費(fèi)了多長(zhǎng)的時(shí)間；

在掃描時(shí)，每個(gè)長(zhǎng)方塊代表255個(gè)扇區(qū)（在LBA模式下）或代表63個(gè)扇區(qū)（在CHS模式下）；

掃描過(guò)程可隨時(shí)按ESC鍵終止；

方塊從上到下依次表示從正常到異常，讀寫(xiě)速度由快到慢。正常情況下，應(yīng)該只出現(xiàn)第一個(gè)和第二個(gè)灰色方塊；

如果出現(xiàn)淺灰色方塊（第三個(gè)方塊），則代表該處讀取耗時(shí)較多；

如果出現(xiàn)綠色和褐色方塊（第三個(gè)和第四個(gè)方塊），則代表此處讀取異常，但還未產(chǎn)生壞道；

如果出現(xiàn)紅色方塊（第六個(gè)，即最后一個(gè)方塊），則代表此處讀取吃力，馬上就要產(chǎn)生壞道；

如果出現(xiàn)問(wèn)號(hào)？，則表示此處讀取錯(cuò)誤，有嚴(yán)重物理壞道，無(wú)法修復(fù)。

注1：有些讀寫(xiě)速度奇慢的硬盤(pán)如果用MHDD的F4 SCAN掃描并把EraseWAITS打開(kāi)就可以看到，要么均勻分布著很多W，要么就是遍布著很多五顏六色的方塊，這說(shuō)明這類(lèi)硬盤(pán)之所以讀寫(xiě)速度奇慢，就是因?yàn)榇罅康谋P(pán)片扇區(qū)有瑕疵，造成讀寫(xiě)每個(gè)扇區(qū)都會(huì)耗費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間，綜合到一起就導(dǎo)致了整個(gè)硬盤(pán)讀寫(xiě)速度奇慢。

注2：老型號(hào)硬盤(pán)（2、3G以下）由于性能較低、速度較慢，因此在F4 SCAN檢測(cè)時(shí)很少出現(xiàn)第一個(gè)方塊，而出現(xiàn)第二和第三個(gè)方塊，甚至?xí)霈F(xiàn)第四個(gè)方塊（綠色方塊），這種情況是由于老硬盤(pán)讀寫(xiě)速度慢引起的，并不說(shuō)明那些扇區(qū)讀寫(xiě)異常。

在掃描時(shí)使用箭頭鍵可以靈活地控制掃描的進(jìn)程，很象VCD播放機(jī)：↑快進(jìn)2%；↓后退2%；←后退0.1%；→快進(jìn)0.1%。靈活運(yùn)用箭頭鍵，可以對(duì)不穩(wěn)定、壞道頑固的區(qū)段進(jìn)行